Kolloquium über anwendungsorientierte Statistik
Universität und ETH Zürich
Seminar für Statistik, ETHZ
Zuverlässigkeit elektronischer Produkte -
statistische und physikalische Methodik
Dr. Urs Sennhauser, EMPA, Dübendorf
18. November 1999, 16.15 - ca. 17.30
Hauptgebäude der Universität, Hörsaal E 18
Abstract
Die erhöhte Komplexität technischer und speziell elektronischer Systeme hat
die Anforderungen bezüglich deren Zuverlässigkeit und Verfügbarkeit in den
letzten Jahren stark in den Vordergrund gerückt. Dies betrifft nicht mehr
nur teure und sicherheitsrelevante Investitionsgüter, sondern auch
Massenprodukte, welche heute oft komplexe elektronische Schaltungen und
Prozessoren enthalten. Zuverlässigkeit, Funktionalität und
Herstellungskosten stellen in der Regel widersprüchliche Anforderungen an
die Produkteentwicklung. Damit eine Optimierung möglich ist, muss die
Zuverlässigkeit quantitativ dargestellt werden. Seit einigen Jahrzehnten
erlaubte die Theorie der stochastischen Prozesse im Bereich elektronischer
Produkte häufig auch quantitativ brauchbare oder gar gute Voraussagen zu
machen. Bei neuen technologischen Entwicklungen fehlen aber oft statistisch
gesicherte Basisdaten zur Zuverlässigkeit der einzelnen Komponenten. Im
letzten Jahrzehnt hat deshalb der Ansatz zur direkten Berechnung der
Zuverlässigkeit aufgrund physikalischer Prozesse stark an Bedeutung
gewonnen. Der Vortrag stellt Stärken und Schwächen des statistischen und
des physikalischen Ansatzes zur Bestimmung der Zuverlässigkeit
elektronischer Systeme dar.
Further information:
Christina Künzli,
Statistics Seminar of ETH Zurich